金融界2024年11月28日消息，国家知识产权局信息显示，上海贝岭股份有限公司申请一项名为“芯片的通用测试装置和芯片测试系统”的专利，公开号 CN 119028418 A，申请日期为2024年7月。
专利摘要显示，本公开提供了一种芯片的通用
测试装置和芯片测试系统。所述通用测试装
置包括电路板、以及设于所述电路板上的外
部接口和多组不同封装类型的测试座；所述
外部接口的一端与所述测试座连接，所述外
部接口的另一端与不同类型的测试主设备
电连接；其中，每种封装类型对应多个所述
测试座，所述测试主设备对若干个插入同一
种封装类型的所述测试座的待测芯片进行
同一批次测试。通过兼容多种封装类型、多种通信协议和多种
测试主设备，在进行芯片测试时，能够实现多颗芯片同时测试，
以及满足高低温测试的使用要求，不仅避免了不同测试条件下
更换测试硬件的不便，通过保持相同的测试硬件条件也可以提
高测试精度，从而缩短了测试用时，降低了测试成本。
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发表至： 走进科学
2024-11-28